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岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F20-UV_X膜厚儀的訂單（2012.12.3）

發(fā)布時間：2020-06-16

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       岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F20-UVX的訂單。該研究所為中科院下屬科研院所，成立于1954年，主要從事發(fā)光學(xué)、應(yīng)用光學(xué)、光學(xué)工程、精密機(jī)械與儀器的研發(fā)生產(chǎn)。目前該所已成為我國上等航天光學(xué)遙感器、機(jī)載光電平臺及大型光測裝備的主要研制、生產(chǎn)基地，并為我國的國防建設(shè)、經(jīng)濟(jì)發(fā)展和社會進(jìn)步做出了一系列突出貢獻(xiàn)。該用戶采購F20-UVX儀器主要用于光子晶體激光器項(xiàng)目中各種膜層的厚度及光學(xué)常數(shù)。
      F20-UVX膜厚測量儀采用的是波長范圍在200-1700nm的紫外可見紅外光干涉測量，能夠測量1nm-250um范圍的膜層厚度，準(zhǔn)確度高達(dá)為0.4%或2nm，精度為0.1nm，光源采用氘燈或鎢鹵素?zé)?，是一款性價比很高的膜厚測量設(shè)備。該產(chǎn)品將于2012年12月中旬，交予客戶正常使用。  
膜厚儀
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