發(fā)布時間:2010-05-06
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美國Filmetrics公司生產(chǎn)的薄膜厚度測量儀利用光譜反射的原理,測量精度達(dá)到埃級的分辯率,測量快,操作簡單及*具性價比的薄膜厚度測量設(shè)備。設(shè)備測量范圍從近紅外到紫外線,波長范圍從215nm到1700nm,測量厚度從10A到350um范圍。凡是光滑的,透明或半透明的,或是對光有吸收的膜層都可以測量。
同時我們根據(jù)相關(guān)科研前沿的客戶相關(guān)需求,開發(fā)研制了F30系列,主要應(yīng)用于相關(guān)的在線薄膜厚度實時測試及相關(guān)設(shè)備動態(tài)沉淀速率的動態(tài)實時檢測,此設(shè)備可實現(xiàn)多波段檢測及客戶感興趣的任意單一波段實時檢測,同時該設(shè)備具備其他型號的靜態(tài)檢測功能。