發(fā)布時(shí)間:2020-07-22
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美國(guó)AEP 公司專(zhuān)注于表面測(cè)量技術(shù)開(kāi)發(fā)與應(yīng)用, 其生產(chǎn)的臺(tái)階儀和光學(xué)輪廓儀, 厚度、粗糙度、孔深 …等三維空間尺寸測(cè)量,并適用于多種產(chǎn)業(yè),例如 : 芯片封裝、MEMS 、電路板、 LED、LCD。同時(shí)AEP亦開(kāi)發(fā)出實(shí)時(shí)應(yīng)力分析及鍍膜后的應(yīng)力測(cè)量設(shè)備, 以滿足高新行業(yè)產(chǎn)品微日漸小化與高精度的要求。