發(fā)布時間:2020-07-20
瀏覽次數(shù):254
F20膜厚測量儀采用的是波長范圍在380-1050nm的可見光干涉測量,能夠測量15nm-100um范圍的膜層厚度,準(zhǔn)確度高達0.4%或2nm,精度為0.1nm,是一款性價比很高的膜厚測量設(shè)備。
technology
相關(guān)技術(shù)
品牌認證
1838天
已認證
本站導(dǎo)航
聯(lián)系電話:400 852 9632 推薦搜索: 晶圓鍵合機 ,光刻機 ,納米壓印 ,膜厚儀 ,隔振臺
微信公眾號
滬公網(wǎng)安備 31011502016664號