岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F40的訂單。該客戶位于北京市,是一所中科院下屬的研究機構(gòu),該客戶主要從事微電子領域研究與開發(fā)的國立研究機構(gòu),致力于打造現(xiàn)代化的高技術研究機構(gòu),成為中國IC技術和產(chǎn)業(yè)領域一個技術基地和高素質(zhì)高層次人才培養(yǎng)基地,實現(xiàn)產(chǎn)業(yè)的可持續(xù)發(fā)展做出貢獻。 F40 儀器主要用于測量實驗研究的各種有機膜層的厚度。該客戶主要使用F40在微觀區(qū)域內(nèi)針對Si基底各種光學膜層進行厚度檢測。
F40膜厚測量儀:
F40 膜厚測量儀采用的是波長范圍在400-850nm的可見光干涉測量,能夠測量20nm-20um范圍的膜層厚度,精度高達0.032nm,是一款性價比很高的膜厚測量設備。該產(chǎn)品將于2012年10月份,交予客戶正常使用。