岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F20-UV，chuan透平臺(tái)及連接顯微鏡配件的訂單（2012.04.06）

發(fā)布時(shí)間：2020-06-10

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岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F20-UV，穿透平臺(tái)及連接顯微鏡配件的訂單。該客戶位于安徽合肥市，是一所教育部直屬的國內(nèi)重點(diǎn)大學(xué)、國家“211工程”重點(diǎn)建設(shè)高校和 “985工程”優(yōu)勢學(xué)科**平臺(tái)建設(shè)高校。儀器主要用于測量研究性質(zhì)類的各種膜層的厚度，由于測量種類很多，其所購的配件也很充分，帶有能夠測量*小3nm厚度的UV光源，測試穿透率的穿透平臺(tái)，另外還購了連接其顯微鏡的C-mount接頭，這樣就可以測試更小實(shí)驗(yàn)樣品的厚度。
F20-UV膜厚測試儀采用200nm～1100nm紫外可見光進(jìn)行干涉測量，單測厚度的情況下測試范圍達(dá)1nm～40um，分辨率高達(dá)0.1nm。由于儀器自身能夠提供*小200nm的紫外波段，能夠測量膜厚*小為1nm的薄膜層，在測量很薄膜層有很廣泛的應(yīng)用。

F20-UV系統(tǒng)已于2011年7月交付，安裝和和驗(yàn)收）
F20-UV膜厚儀：