發(fā)布時間:2020-05-27
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由于客戶的特殊應用,我們給該客戶配置的該套測量系統(tǒng)考慮到了應用在透明與不透明基底的兩種應用。充分滿足客戶的應用需求以及節(jié)省成本。
美國Filmetrics公司生產的F50薄膜厚度測量儀是具有自動Mapping功能的測量儀,具有其系列的所有優(yōu)點:利用光譜反射的原理,測量精度達到埃級的分辯率,測量快,操作簡單及*具性價比的薄膜厚度測量設備。Filmetrics公司的設備測量范圍從近紅外到紫外線,波長范圍從200nm到1700nm,測量厚度從30A到500um范圍。凡是光滑的,透明或半透明的,或是對光有吸收的膜層都可以測量。