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再次拿到采購【Filmetrics薄膜厚度動態(tài)監(jiān)測儀F30】的訂單

發(fā)布時間：2020-05-20

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       岱美拿到采購Filmetrics薄膜厚度動態(tài)監(jiān)測儀F30的訂單?？蛻羰侵锌圃合聦傺芯吭?，是集半導體物理、材料、器件研究及其系統(tǒng)集成應用于一體的綜合性研究所，該單位擁有多個國家重點實驗室。在國際上享有一定聲譽。訂單已于2011年3月份完成。
       美國Filmetrics公司生產(chǎn)的F30薄膜厚度動態(tài)監(jiān)測儀主要應用于動態(tài)檢測，可針對樣品的沉積速率、n、k值等實時監(jiān)測，測量精度可以達到1%，動態(tài)可以監(jiān)測100nm以上厚度膜層，客戶可根據(jù)自身需要選擇F30系列不同型號產(chǎn)品。其中F30波段范圍為380-1050nm，F(xiàn)30-NIR波段范圍為950-1700nm，F(xiàn)30-EXR波段范圍為380-1700nm。
       客戶方使用F30主要應用于MOCVD上針對藍寶石基底樣品進行膜層厚度動態(tài)監(jiān)測。
薄膜厚度動態(tài)監(jiān)測儀F30
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