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第八屆結(jié)技術(shù)國際研討會(huì)8th International Workshop of Junction Technology

發(fā)布時(shí)間:2008-05-15

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        中國上海 - 2008年5月15日

       岱美有限公司與美國三維原子探針3D Atom Probe制造商Imago Scientific Instruments參與8thInternational Workshop of Junction Technology第八屆結(jié)技術(shù)國際研討會(huì)。University of Wisconsin教授及Imago創(chuàng)辦人Thomas Kelly被邀出席及于會(huì)議上發(fā)表三維原子探針及于半導(dǎo)體的應(yīng)用。多位會(huì)議參與者對(duì)Imago專利技術(shù)LEAP–Local Electrode Atom Probe深感興趣及作出多番提問。


  

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